蕭凱起 / Kai-Chi Hsiao
职称： 助理研究员
现职： 助理研究员
电话： 03-2118800 分機5771
学歷： 材料博士-国立台湾大学
专长领域： 交流阻抗分析配合激勵電容剖面法分析元件內部缺陷密度、低掠角二維X光繞射分析結晶材料中其結晶優勢排列方向、 變溫光致螢光光譜分析固態材料中電子電洞對的束縛能、凱爾文式探針顯微鏡分析材料後激發前後之表面電位變化與其缺陷分布行為、飛行時間式二次離子質譜分析元件中離子擴散的行為(ToF-SIMS)、X光電子光譜分析薄膜材料中元素的縱深分布